Die LIV-Laser-Charakterisierungsserie ist eine Reihe von Messsystemen zur elektro-optischen Charakterisierung von Laserdioden und LEDs – ob gehäust oder als Rohchip.
Diese Source Measurement Units (SMU) führen vollständige Laser-Charakterisierungsmessungen in extrem kurzer Zeit durch und ermöglichen so hohen Durchsatz.
LIV100
-
Messmethoden:
Gepulste und CW-Prüfung -
Maximalströme:
250 mA bis 600 A -
Maximale Anzahl an Stufen:
4000 -
Schnittstelle:
USB -
Durchsatz:
typischerweise 1 s pro Bauteil -
Anstiegszeit:
70 ns (F-Version); 500 ns (L-Version); 1 µs (XL-Version) -
Gemessene Parameter:
optische Leistung, Laserspannung und Laserstrom
LIV120
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Messmethoden:
Gepulstes, QCW- und CW-Testing einschließlich Burn-in -
Maximalströme:
250 mA bis 1200 A -
Maximale Anzahl an Stufen:
4000 -
Schnittstelle:
USB -
Durchsatz:
typischerweise 1 s pro Bauteil -
Anstiegszeit:
5 µs – 600 µs (abhängig vom Maximalstrom) -
Gemessene Parameter:
optische Leistung, Laserspannung, Laserstrom und Monitordioden-Strom
Eigenschaften
Die schlüsselfertigen Laserdioden-Testsysteme LIV100 und LIV120 verwenden digital programmierbare analoge Endstufen für eine flexible und präzise Stromregelung bei LIV-Messungen. Es steht eine breite Palette an Stromendstufen zur Verfügung, mit Maximalströmen von 250 mA für Low-Power- und Telekom-Laser bis hin zu 1200 A für Hochleistungs-Laserbarren. Kundenspezifische Source Measurement Units mit noch höheren Strömen sind ebenfalls erhältlich!
Anwendungsgebiete:
Zu den Anwendungen zählen die Charakterisierung von Laserdioden und LEDs vor und nach der Montage bzw. Gehäusung, die Eingangskontrolle sowie der Einsatz bei OEMs. Die schnelle Datenerfassung sorgt für hohen Durchsatz. Artifex Engineering unterstützt diesen Hochstrom-Laserdiodentester mit einem individuellen Konfigurationsservice für Streifenleiter oder Kontaktkarten.
LIV100
Das LIV100 ist ein leistungsstarkes Kurzpuls-Laserdioden-Charakterisierungssystem zum Testen von Laserdioden und LEDs auf Chip-, Barren- oder Submount-Ebene. Seine extrem schnelle Anstiegszeit mit praktisch keinem Überschwingen ermöglicht präzise Messungen an thermisch „ungeschützten“ Bauteilen bei gleichzeitig minimaler thermischer Belastung des Prüflings.
Das System unterstützt CW-Tests bis zu einem Maximalstrom von 20 A und bietet gepulsten Betrieb mit Pulsdauern von 150 ns bis 2000 µs. Die Version mit schneller Anstiegszeit erreicht Anstiegs- und Abfallzeiten von nur 50 ns bei Strömen bis zu 60 A und gewährleistet damit eine präzise Steuerung des Treiberstroms.
Diese einzigartige Leistungsfähigkeit ermöglicht zuverlässige Tests von Hochleistungslaserdioden (HPLD), selbst bei empfindlichen Bauteilen auf Chip- oder Barrenebene, ohne nennenswerte thermische Belastung einzubringen. Dadurch ermöglicht das LIV100 eine hochpräzise LIV-Charakterisierung bei gleichzeitigem Schutz empfindlicher Halbleiterlaserstrukturen während der Messung.
LIV120
Das LIV120 ist ein vielseitiger CW/QCW-Laserdiodentester für die zuverlässige Charakterisierung und Prüfung von Laserdioden und LEDs. Es vereint leistungsstarke Messfunktionen mit einem kompakten Design und bietet eine vollständige Einkanal-Burn-in-Funktionalität, wodurch es sich sowohl für den Laboreinsatz als auch für die OEM-Integration eignet.
Das Gerät wird über eine USB-Schnittstelle gesteuert, was vollautomatisierte Messungen von einem Host-Computer aus ermöglicht. Ein vordefinierter Parametersatz wird auf das Gerät geladen; nach dem Start der Messung führt das LIV120 die vollständige Testsequenz autonom durch. Dies gewährleistet konsistente und reproduzierbare Messungen bei gleichzeitig reduziertem Bedienaufwand.
Als leistungsstarkes, aber kosteneffizientes gepulstes, QCW- und CW-Laserdioden-Charakterisierungssystem konzipiert, unterstützt das LIV120 ein breites Spektrum an Testanwendungen, darunter Diodencharakterisierung, Wareneingangsprüfung und OEM-Integration.
Das Gerät ist mit verschiedenen Source-Measurement-Unit (SMU)-Endstufen erhältlich, die Strombereiche von 250 mA bis 40 A in einem kompakten Gehäuse sowie bis zu 1200 A in 19-Zoll-Racksystemen für Hochleistungsanwendungen abdecken. Für optische Leistungsmessungen ist das LIV120 mit unseren OPM150-Laserleistungsdetektorköpfen kompatibel, was eine präzise und zuverlässige Leistungserfassung gewährleistet.
Dank seiner optimierten Architektur dauert ein vollständiger Messzyklus – einschließlich der Datenübertragung an den Host-Computer – in der Regel weniger als eine Sekunde, was schnelle und effiziente Bauteiltests sowohl in Forschungs- als auch in Produktionsumgebungen ermöglicht.
Laserdioden-Charakterisierungssystem | LIV100
Leistungsstarkes Kurzpuls-Testsystem zur Charakterisierung von Laserdioden und LEDs auf Chip-, Barren- oder Submount-Ebene. Die schnelle Anstiegszeit mit praktisch keinem Überschwingen ermöglicht das Testen dieser thermisch „ungeschützten“ Bauteile ohne übermäßige thermische Belastung. Die Standardgeräte sind nicht CW-fähig.
Laserdioden-Charakterisierungssystem | LIV120
Leistungsstarkes, kostengünstiges Testsystem für gepulsten / QCW- / CW-Betrieb, geeignet sowohl für den Laboreinsatz als auch für OEM-Anwendungen.
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