In The Fast Lane!
- Komplettlösung
- Ströme bis 600 Ampere
- Sehr kompakt
Leistungsstarkes Kurzpuls-Prüfsystem für die elektrooptische Charakterisierung von Laserdioden und LEDs auf Chip-, Barren- oder Submount-Ebene.
Die schnelle Anstiegszeit nahezu ohne Überschwinger ermöglicht die Prüfung dieser thermisch „nakten“ Bauteile ohne übermäßige thermische Aufladung.
CW-Prüfung ist nur für Modelle mit bis zu 20A Maximalstrom erhältlich.
- Gepulsted Prüfung sowie CW-Prüfung für Modelle bis zu 20A
- Maximalströme: 250mA bis zu 600A
- Maximale Anzahl an Stromschritten: 4000
- Schnittstelle: USB
- Anstiegszeit: 70ns (F-Version); 500ns (L-Version); 1µs (XL-Version)
- Durchsatz: typischerweise 1s pro Einheit
Der LIV100 ist ein Kurzpuls-Testsystem zur Charakterisierung von Laserdioden und LEDs auf Chip-, Barren- oder Submount-Ebene.
Die schnelle Anstiegszeit nahezu ohne Überschwinger ermöglicht die Prüfung dieser thermisch „nakten“ Bauteile ohne übermäßige thermische Aufladung.
Wir haben drei Versionen des LIV100 im Angebot, die sich in der Geschwindigkeit und in der Pulsdauer unterscheiden.
Jede Version ist für einen beliebigen Maximalstrom erhältlich (angegeben durch „xxx“ in der Liste s.u.).
LIV100-Fxxx: Schnelle Version mit 70ns Anstiegszeit und Pulsdauern von 150ns. Die höchste Pulsdauer bei Maximalstrom ist typischerweise begrenzt auf 10µs.
LIV100-Lxxx: Version mit langen Pulsen mit einer Anstiegszeit von 500ns. Die kürzeste Pulsdauer ist 2µs. Die höchste Pulsdauer bei Maximalstrom ist typischerweise begrenzt auf 100µs.
LIV100-XLxxx: Version mit extra langen Pulsen mit einer Anstiegszeit von 1µs. Die kürzeste Pulsdauer ist 5µs. Die höchste Pulsdauer bei Maximalstrom sind 2000µs.
FUNKTIONSWEISE
LIV
Alle drei „Source Measurement Units“ SMU) werden für automatisierte Messungen über den USB-Port gesteuert.
Vom Steuercomputer wird ein Parametersatz hochgeladen und nach einem Startbefehl führt das LIV den gesamten Messvorgang vollständig autark durch.
Die schnelle Datenerfassung sorgt für einen hohen Durchsatz.
Der Burst-Modus wird genutzt, um den Treiber bei konstantem Strom mit einer einzigen Puls- (oder Schritt-)weite und Pausenzeit während der gesamten Messung zu betreiben. Die Laserleistung wird in diesem Modus für jeden Puls bestimmt. Schematisch erscheint dies folgendermaßen:
Der Burst-Modus wird verwendet, um den thermischen Kontakt einer Vorrichtung zu testen oder um Licht für eine bestimmte Zeitdauer (Smile, Nahfeld- / Fernfeldmessungen oder Bestimmung des Spektrums) zu generieren.
Artifex Engineering unterstützt dieses Produkt mit einer kundenspezifischen Konfektionierung von Flachbandleitern oder Kontaktkarten zur Stromübertragung.
ANWENDUNGSGEBIETE
Mögliche Anwendungen liegen in der Charakterisierung von Laserdioden vor und nach dem Submounting oder Packaging, der Wareneingangskontrolle sowie im OEM-Bereich.
Unter Verwendung der mitgelieferten Software genügt ein einziger Mausklick, um für die getestete Einheit ein vollständiges Datenblatt in pdf-Format zu erzeugen.
Die Kurzpulstauglichkeit des LIV100 ermöglicht unverfälschte Messungen der zu testenden Einheit mit vernachlässigbarer thermischer Aufladung.
Dieser Effekt kann ausgenutzt werden, um die thermische Beständigkeit des Kontaktes zu einem Submount oder Package zu bestimmen (siehe „Tutorial-“ und „Downloads-“ Tabs).
| wdt_ID | wdt_created_by | wdt_created_at | wdt_last_edited_by | wdt_last_edited_at | Parameter | Conditions | Resolution | Min | Typ | Max | Unit |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| 27 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Inputs:
|
||||||
| 28 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Sampling rate | selectable: 20/n MS/s with n=1..20 | n.a. | 1 | 20 | MS/s | |
| 29 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | A/D Resolution | 13 | bit | ||||
| 30 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Photodiode gain | optimum gain automatically selected |
1 10 |
V/mA | |||
| 31 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Transimpedance amplifier rise time1 | Input capacitance <20pF, gain = 1kΩ | 50 | ns | |||
| 32 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Output | ||||||
| 33 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Pulse duration2 version F | 20MS/s sampling rate 1MS/s sampling rate |
0.050 1 |
0.150 1 |
100 2000 |
µs | |
| 34 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Pulse duration2 version L | 20MS/s sampling rate 1MS/s sampling rate |
0.050 1 |
2 2 |
100 2000 |
µs | |
| 35 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Pulse duration2 version XL | 20MS/s sampling rate 1MS/s sampling rate |
0.050 1 |
5 5 |
100 2000 |
µs | |
| 36 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Rise time | F L XL |
701 420 700 |
100 500 1000 |
ns | ||
| 37 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Current overshoot at maximum current5 | 0 | 5 | % | |||
| 38 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Pulse separation | selectable: 50 ·n µs with n= 2..10 000 | 50 | 100 | 500 000 | µs | |
| 39 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Repetition rate | 100 | kHz | ||||
| 40 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Current range |
LIV100-F002, -L002 or -XL002 LIV100-F040, -L040 or -XL040 LIV100-F080, -L080 or -XL080 LIV100-F120, -L120 or -XL120 LIV100-L200 or -XL200 LIV120-XL400 LIV120-XL600 |
0.0005 0.01 0.02 0.03 0.05 0.10 0.15 |
0.01 0.2 0.4 0.6 1.0 2.0 2.0 |
2 40 80 120 200 400 600 |
A | |
| 41 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | D/A resolution | 12 | bit | ||||
| 42 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Compliance voltage | F L XL |
8 | 20 | V | ||
| 43 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Duty cycle quick rise version (examples only: any current range from 1A to 600A may be specified at time of purchase) |
LIV100-F002 LIV100-F040 LIV100-F080 LIV100-F120 |
25 1.5 0.7 0.5 |
% | |||
| 44 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Duty cycle long pulse version (examples only: any current range from 1A to 600A may be specified at time of purchase) |
LIV100-L002 LIV100-L040 LIV100-L080 LIV100-L120 LIV100-L200 |
35 2.9 1.5 1.0 0.6 |
% | |||
| 45 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Duty cycle long pulse version (examples only: any current range from 1A to 600A may be specified at time of purchase) |
LIV100-XL002 LIV100-XL040 LIV100-XL080 LIV100-XL120 LIV100-XL200 LIV100-XL400 LIV100-XL600 |
35 2.9 1.5 1.0 0.6 0.3 0.2 |
% | |||
| 46 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Signal processing | ||||||
| 47 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Depth of storage | 512 | kB | ||||
| 48 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Number of channels | 1 | 1 | 250 | |||
| 49 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | PC Interface | ||||||
| 50 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Type | USB; 100kB/s | |||||
| 51 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | Dimensions | ||||||
| 52 | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | benjamin | 04/05/2026 03:50 PM | DAQ unit | 150 x 140 x 135 (w x l x h) | mm |
Frontplatte
Optische Messung
Die optische Leistung wird mit einer Ulbrichtkugel als Sammelelement gemessen. Die innerhalb der Kugel integrierte optische Leistung wird an einem optischen Port erfasst, der mit einem FC-Faseranschluss ausgestattet ist. Die erfasste optische Leistung wird über ein Multimode-Glasfaser-Patchkabel zum Hauptsystem übertragen, wo sie mit einer Photodiode und einem Transimpedanzverstärker im Gehäuse der LIV100-Einheit gemessen wird. Die gesamte optische Kette (Ulbrichtkugel – Lichtwellenleiter – Photodiode – Transimpedanzverstärker) wird vor Auslieferung als Einheit kalibriert.
Stromausgang
Der Stromausgang zur Ansteuerung des Prüflings (DUT) wird über die Steckaufnahme an der Oberseite der Frontplatte ausgegeben.
Artifex Engineering bietet umfassende Unterstützung bei der Entwicklung und Fertigung kundenspezifischer Streifenleiter-Kontaktkarten (Strip-Line-Kontaktkarten) zur Kontaktierung von Laserbarren, Chips, TO-, C-Mount-, CS-Mount-Gehäusen usw. Kontaktieren Sie uns für Ihre Anforderungen. Kontakt aufnehmen for your requirements.
Die Kontaktkarte wird mit dem Führungsschlitz auf der linken Seite der Buchse in die Kartenbuchse eingesetzt. Die korrekte Polarität wird durch den Führungsschlitz der Karte sichergestellt.
- Anstiegszeit: 70ns (F-Version); 500ns (L-Version); 1µs (XL-Version)
- Maximalströme: 250mA bis zu 600A
- Wellenlängenbereich: 250-1000nm; 400-1600nm; 800-2490nm
- Simultane Spektrummessung
Gerne passen wir beispielsweise die Wellenlänge oder den Strom an Ihre Anwendung an. Teilen Sie uns Ihre Anforderungen mit.
- Ulbrichtkugeln
- Streifenleiter-Anschlüsse
- Halterungen und Vakuum-Chucks
- TECs und TEC-Treiber
Anwendungshinweis: Vergleich von Spannungs- und Stromquellen
Application Note: Considerations for Laser Contacting
Application Note: Choice of Compliance Voltage in Current Sources
Application Note: Effect of Pulse Duration on Bar Temperature
Application Note: Contacting single emitters on a laser bar on a vacuum chuck
Application Note: Measuring Threshold Accurately with the LIV100
Betriebsanleitung
Wofür steht LIV?
LIV stands for Light-Current-Voltage, referring to the three parameters measured during laser diode characterization.
Welche Messungen kann das LIV100/LIV120 durchführen?
Typische Messungen beinhalten:
- L-I-Kurven (optische Leistung vs. Strom)
- V-I-Kurven (Vorwärtsspannung vs. Strom)
- Schwellstrom
- Steigungseffizienz
Welche Arten von Bauteilen können getestet werden?
- Laserdioden
- LEDs
- VCSELs
- Photonische Bauteile, die eine Strom- und optische Charakterisierung erfordern
Was ist der Unterschied zwischen LIV100 und LIV120?
Das LIV100 ist ein Kurzpulssgerät, das für unverpackte Geräte wie Chips oder Bars verwendet wird. Das LIV120 ist ein QCW/CW-Gerät, das im Allgemeinen für montierte oder verpackte Geräte wie TO- und CS-Fassungen verwendet wird.
Ich benötige einen spezifischen Strombereich, den ich weder auf Ihrer Website noch in Ihrer Broschüre finden kann. Ist es möglich, kundenspezifische Strom- oder Spannungsbereiche anzufordern?
Es ist in der Regel unkompliziert, diese Bereiche anzupassen. Geben Sie einfach Ihre Anforderungen an, und ein entsprechendes Gerät wird für Ihr Projekt ausgewählt.
Fragen zur Messung
Wie wird die optische Leistung bei LIV-Tests gemessen?
Mithilfe eines integrierten Detektors, beispielsweise einer Photodiode oder einer Ulbrichtkugel, die an das System angeschlossen ist.
Was ist der Schwellstrom?
Der Schwellstrom ist der Stromwert, ab dem die Laserdiode beginnt, kohärentes Laserlicht zu emittieren.
Was ist die Steigungseffizienz?
Die Steigungseffizienz beschreibt, wie effizient der Strom oberhalb des Schwellenwerts in optische Leistung umgewandelt wird.
Können gepulste Messungen durchgeführt werden?
Ja. Der gepulste Betrieb reduziert die Aufheizeffekte während der Messung.
Wie verbinde ich eine Laserdioden mit dem LIV100?
Das LIV100 nutzt Stripline-Technologie zur Minimierung der Induktivität. Die Laserdiode wird über die Ausgangsklemmen mit richtiger Polarität angeschlossen. Kontaktkarten sind auf Anfrage für kundenspezifische Anschlusskonfigurationen erhältlich.
Wie schließe ich eine Laserdiode an den LIV120 an?
Die Laserdiode wird über die Ausgangsklemmen mit richtiger Polarität angeschlossen. Wenn es sich um ein Gerät mit geringem Stromverbrauch handelt, gibt es einen DB9-Ausgang.
Welche Wartung ist erforderlich?
Typische Wartungsmaßnahmen umfassen:
- Regelmäßige Kalibrierung
- Überprüfung der Anschlüsse
- Reinigung der optischen Oberflächen (nur mit sauberer, trockener Druckluft) Integration
Kann das LIV-System automatisiert werden?
Das System unterstützt automatisierte Messungen über Softwaresteuerung.
Kann die Temperaturregelung integriert werden?
Thermokontroller und temperaturgeregelte Tische können hinzugefügt werden.
Ist es für Produktionstests geeignet?
Ja, insbesondere für automatisierte LIV-Sweeps. Das System kann vollständige Lasercharakterisierungsmessungen in extrem kurzer Zeit für hohen Durchsatz durchführen.
Anwendungshinweise
Benötigen Sie weitere Informationen? Hier finden Sie nützliche Links!
Kontaktierung von Einzelemittern auf Laserbarren
Schulung zur Kontaktierung von unverkapselten Chips und Barren für LIV-Messungen
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Artifex Software Development Kit
Das SDK ist beim Kauf eines Geräts fest im Lieferumfang enthalten und kostenlos.
Es umfasst den Quellcode des Anwendungsprogramms (in VB.net) sowie ein LabView-VI mit den Grundfunktionen des Geräts. Eine Beschreibung der Kommunikation mit den Geräten sowie eine Liste der verwendeten Befehle sind ebenfalls enthalten.
