Leistungsstarkes Kurzpuls-Prüfsystem für die elektrooptische Charakterisierung von Laserdioden und LEDs auf Chip-, Barren- oder Submount-Ebene.
Die schnelle Anstiegszeit nahezu ohne Überschwinger ermöglicht die Prüfung dieser thermisch „nakten“ Bauteile ohne übermäßige thermische Aufladung.
CW-Prüfung ist nur für Modelle mit bis zu 20A Maximalstrom erhältlich.
Der LIV100 ist ein Kurzpuls-Testsystem zur Charakterisierung von Laserdioden und LEDs auf Chip-, Barren- oder Submount-Ebene.
Die schnelle Anstiegszeit nahezu ohne Überschwinger ermöglicht die Prüfung dieser thermisch „nakten“ Bauteile ohne übermäßige thermische Aufladung.
Wir haben drei Versionen des LIV100 im Angebot, die sich in der Geschwindigkeit und in der Pulsdauer unterscheiden.
Jede Version ist für einen beliebigen Maximalstrom erhältlich (angegeben durch „xxx“ in der Liste s.u.).
Alle drei „Source Measurement Units“ SMU) werden für automatisierte Messungen über den USB-Port gesteuert.
Vom Steuercomputer wird ein Parametersatz hochgeladen und nach einem Startbefehl führt das LIV den gesamten Messvorgang vollständig autark durch.
Die schnelle Datenerfassung sorgt für einen hohen Durchsatz.
Der Burst-Modus wird genutzt, um den Treiber bei konstantem Strom mit einer einzigen Puls- (oder Schritt-)weite und Pausenzeit während der gesamten Messung zu betreiben.
Die Laserleistung wird in diesem Modus für jeden Puls bestimmt. Schematisch erscheint dies folgendermaßen:
Der Burst-Modus wird verwendet, um den thermischen Kontakt einer Vorrichtung zu testen oder um Licht für eine bestimmte Zeitdauer (Smile, Nahfeld- / Fernfeldmessungen oder Bestimmung des Spektrums) zu generieren.
Artifex Engineering unterstützt dieses Produkt mit einer kundenspezifischen Konfektionierung von Flachbandleitern oder Kontaktkarten zur Stromübertragung.
Mögliche Anwendungen liegen in der Charakterisierung von Laserdioden vor und nach dem Submounting oder Packaging, der Wareneingangskontrolle sowie im OEM-Bereich.
Unter Verwendung der mitgelieferten Software genügt ein einziger Mausklick, um für die getestete Einheit ein vollständiges Datenblatt in pdf-Format zu erzeugen.
Die Kurzpulstauglichkeit des LIV100 ermöglicht unverfälschte Messungen der zu testenden Einheit mit vernachlässigbarer thermischer Aufladung.
Dieser Effekt kann ausgenutzt werden, um die thermische Beständigkeit des Kontaktes zu einem Submount oder Package zu bestimmen (siehe „Tutorial-“ und „Downloads-“ Tabs).
System zur Charakterisierung von Laserdioden LIV100 – Systemübersicht
| Parameter | Bedingungen | Auflösung | Min | Typ | Max | Einheit | ||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Eingänge:
| ||||||||||||
| Abtastrate | Einstellbar: 20/n MS/s mit n=1..20 | n.a. | 1 | 20 | MS/s | |||||||
| A/D Auflösung | 13 | bit | ||||||||||
| Photodiodenverstärkung | optimale Verstärkung automatisch bestimmt | 1 10 | V/mA | |||||||||
| Transimpedanzverstärker Anstiegszeit1 | Eingangskapazität <20pF. Gain = 1kΩ | 50 | ns | |||||||||
| Ausgang | ||||||||||||
| Pulsdauer2 Version F | 20MS/s Abtastrate 1MS/s Abtastrate | 0,050 1 | 0,150 1 | 100 2000 | µs | |||||||
| Pulsdauer2 Version L | 20MS/s Abtastrate 1MS/s Abtastrate | 0,050 1 | 2 2 | 100 2000 | µs | |||||||
| Pulsdauer2 Version XL | 20MS/s Abtastrate 1MS/s Abtastrate | 0,050 1 | 5 5 | 100 2000 | µs | |||||||
| Anstiegszeit | F L XL | 701 420 700 | 100 500 1000 | ns | ||||||||
| Strom-Überschwinger bei maximalem Strom5 | 0 | 5 | % | |||||||||
| Pulsabstand | Einstellbar: 50 ·n µs mit n= 2..10 000 | 50 | 100 | 500 000 | µs | |||||||
| Wiederholrate | 100 | kHz | ||||||||||
| Strombereich (Angaben beispielhaft. Der maximale Strom kann bei der Bestellung beliebig von 1A bis 600A spezifiziert werden.) | LIV100-F002, -L002 oder -XL002 LIV100-F040, -L040 oder -XL040 LIV100-F080, -L080 oder -XL080 LIV100-F120, -L120 oder -XL120 LIV100-L200 oder -XL200 LIV120-XL400 LIV120-XL600 | 0,0005 0,01 0,02 0,03 0,05 0,10 0,15 | 0,01 0,2 0,4 0,6 1,0 2,0 2,0 | 2 40 80 120 200 400 600 | A | |||||||
| D/A Auflösung | 12 | bit | ||||||||||
| Laser-Vorwärtsspannung | 8 | V | ||||||||||
| Puls-Pausen-Verhältnis Schnellanstiegversion (Angaben beispielhaft. Der maximale Strom kann bei der Bestellung beliebig von 1A bis 600A spezifiziert werden.) | LIV100-F002 LIV100-F040 LIV100-F080 LIV100-F120 | 25 1,5 0,7 0,5 | % | |||||||||
| Puls-Pausen-Verhältnis Langpulsversion (Angaben beispielhaft. Der maximale Strom kann bei der Bestellung beliebig von 1A bis 600A spezifiziert werden.) | LIV100-L002 LIV100-L040 LIV100-L080 LIV100-L120 LIV100-L200 | 35 2,9 1,5 1,0 0,6 | % | |||||||||
| Puls-Pausen-Verhältnis Langpulsversion (Angaben beispielhaft. Der maximale Strom kann bei der Bestellung beliebig von 1A bis 600A spezifiziert werden.) | LIV100-XL002 LIV100-XL040 LIV100-XL080 LIV100-XL120 LIV100-XL200 LIV100-XL400 LIV100-XL600 | 35 2,9 1,5 1,0 0,6 0,3 0,2 | % | |||||||||
| Signalverarbeitung | ||||||||||||
| Speichertiefe | 512 | kB | ||||||||||
| Anzahl Messkanäle | 1 | 1 | 250 | |||||||||
| PC Interface | ||||||||||||
| Typ | USB; 100kB/s | |||||||||||
| Dimensionen | ||||||||||||
| DAQ Einheit | 114 x 150 x 125 (B x L x H) | mm | ||||||||||
1 F-Versionene bei 60A. Der maximale Stsrom der F-Version beträgt 120A.
2 Mit 2µs Pulsbreite. Aufnahme von 200 Pulswerten und 0,2% duty cycle.
3 Per ANSI/IEEE Standard 181-1977: 10% – 90%.
4 Die optimale Abtastrate wird automatisch gesetzt.
5 Mit optimierter Flachbandleitung
Gern werden wir z.B. die Wellenlänge oder den Strom auf Ihre Anwendung anpassen. Bitte kontaktieren Sie uns mit Ihren Anforderungen.
Vergleich von Spannungs- und Stromquellen_Deutsch
Considerations for Laser Contacting
Wahl der maximalen Ausgangsspannung von Stromquellen
Effect of Pulse Duration on Bar Temperature
Contacting single emitters on a laser bar on a vacuum chuck
Measuring Threshold Accurately with the LIV100
Contacting full bars on a vaccum chuck
Veröffentlichung- LIV-Messtechnik zur Laserdiodencharakterisierung
Benötigen Sie weitere Informationen? Hier finden Sie nützliche Links!
Tutorial zur Kontaktierung nackter Chips und Barren zur LIV-Messung (englisch).
Artifex Software-Development-Kit
Das SDK ist ein fester, kostenfreier Bestandteil beim Kauf eines Gerätes.
Es beinhaltet den Quellcode des Anwendungsprogramms (in VB.net) und ein LabView VI mit den grundsätzlichen Funktionen des Instruments.
Ebenfalls enthalten ist die Beschreibung der Kommunikation mit den Geräten und eine Liste der verwendeten Kommandos.
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