Leistungsstarkes Kurzpuls-Prüfsystem für die elektrooptische Charakterisierung von Laserdioden und LEDs auf Chip-, Barren- oder Submount-Ebene.

Die schnelle Anstiegszeit nahezu ohne Überschwinger ermöglicht die Prüfung dieser thermisch „nakten“ Bauteile ohne übermäßige thermische Aufladung.

CW-Prüfung ist nur für Modelle mit bis zu 20A Maximalstrom erhältlich.

Charakteristiken

Gepulsted Prüfung sowie CW-Prüfung für Modelle bis zu 20A
Maximalströme: 250mA bis zu 600A
Maximale Anzahl an Stromschritten: 4000
Schnittstelle: USB
Anstiegszeit: 70ns (F-Version); 500ns (L-Version);
1µs (XL-Version)
Durchsatz: typischerweise 1s pro Einheit

Beschreibung

Der LIV100 ist ein Kurzpuls-Testsystem zur Charakterisierung von Laserdioden und LEDs auf Chip-, Barren- oder Submount-Ebene.

Die schnelle Anstiegszeit nahezu ohne Überschwinger ermöglicht die Prüfung dieser thermisch „nakten“ Bauteile ohne übermäßige thermische Aufladung.

Wir haben drei Versionen des LIV100 im Angebot, die sich in der Geschwindigkeit und in der Pulsdauer unterscheiden.

Jede Version ist für einen beliebigen Maximalstrom erhältlich (angegeben durch „xxx“ in der Liste s.u.).

LIV100-Fxxx: Schnelle Version mit 70ns Anstiegszeit und Pulsdauern von 150ns.
Die höchste Pulsdauer bei Maximalstrom ist typischerweise begrenzt auf 10µs.
LIV100-Lxxx: Version mit langen Pulsen mit einer Anstiegszeit von 500ns. Die kürzeste Pulsdauer ist 2µs.
Die höchste Pulsdauer bei Maximalstrom ist typischerweise begrenzt auf 100µs.
LIV100-XLxxx: Version mit extra langen Pulsen mit einer Anstiegszeit von 1µs. Die kürzeste Pulsdauer ist 5µs.
Die höchste Pulsdauer bei Maximalstrom sind 2000µs.

FUNKTIONSWEISE

LIV

Alle drei Systeme werden für automatisierte Messungen über den USB-Port gesteuert.

Vom Steuercomputer wird ein Parametersatz hochgeladen und nach einem Startbefehl führt das LIV den gesamten Messvorgang vollständig autark durch.

Die schnelle Datenerfassung sorgt für einen hohen Durchsatz.

Gepulster LIV-Modus

Der Burst-Modus wird genutzt, um den Treiber bei konstantem Strom mit einer einzigen Puls- (oder Schritt-)weite und Pausenzeit während der gesamten Messung zu betreiben.

Die Laserleistung wird in diesem Modus für jeden Puls bestimmt. Schematisch erscheint dies folgendermaßen:

Gepulster Burst-Modus

Der Burst-Modus wird verwendet, um den thermischen Kontakt einer Vorrichtung zu testen oder um Licht für eine bestimmte Zeitdauer (Smile, Nahfeld- / Fernfeldmessungen oder Bestimmung des Spektrums) zu generieren.

Artifex Engineering unterstützt dieses Produkt mit einer kundenspezifischen Konfektionierung von Flachbandleitern oder Kontaktkarten zur Stromübertragung.

ANWENDUNGSGEBIETE

Mögliche Anwendungen liegen in der Charakterisierung von Laserdioden vor und nach dem Submounting oder Packaging, der Wareneingangskontrolle sowie im OEM-Bereich.

Unter Verwendung der mitgelieferten Software genügt ein einziger Mausklick, um für die getestete Einheit ein vollständiges Datenblatt in pdf-Format zu erzeugen.

Die Kurzpulstauglichkeit des LIV100 ermöglicht unverfälschte Messungen der zu testenden Einheit mit vernachlässigbarer thermischer Aufladung.

Dieser Effekt kann ausgenutzt werden, um die thermische Beständigkeit des Kontaktes zu einem Submount oder Package zu bestimmen (siehe „Tutorial-“ und „Downloads-“ Tabs).

Spezifikationen

Parameter	Bedingungen	Auflösung	Min	Typ	Max	Einheit
Eingänge: 1x Transimpedanzverstärker (Stromeingang) 2x A/D-Wandler für Strom- und Spannungseingänge
Abtastrate	Einstellbar: 20/n MS/s mit n=1..20	n.a.	1		20	MS/s
A/D Auflösung				13		bit
Photodiodenverstärkung	optimale Verstärkung automatisch bestimmt			1 10		V/mA
Transimpedanzverstärker Anstiegszeit¹	Eingangskapazität <20pF. Gain = 1kΩ			50		ns
Ausgang
Pulsdauer² Version F	20MS/s Abtastrate 1MS/s Abtastrate	0,050 1	0,150 1		100 2000	µs
Pulsdauer² Version L	20MS/s Abtastrate 1MS/s Abtastrate	0,050 1	2 2		100 2000	µs
Pulsdauer² Version XL	20MS/s Abtastrate 1MS/s Abtastrate	0,050 1	5 5		100 2000	µs
Anstiegszeit	F L XL			70¹ 420 700	100 500 1000	ns
Strom-Überschwinger bei maximalem Strom⁵				0	5	%
Pulsabstand	Einstellbar: 50 ·n µs mit n= 2..10 000	50	100		500 000	µs
Wiederholrate					100	kHz
Strombereich (Angaben beispielhaft. Der maximale Strom kann bei der Bestellung beliebig von 1A bis 600A spezifiziert werden.)	LIV100-F002, -L002 oder -XL002 LIV100-F040, -L040 oder -XL040 LIV100-F080, -L080 oder -XL080 LIV100-F120, -L120 oder -XL120 LIV100-L200 oder -XL200 LIV120-XL400 LIV120-XL600	0,0005 0,01 0,02 0,03 0,05 0,10 0,15	0,01 0,2 0,4 0,6 1,0 2,0 2,0		2 40 80 120 200 400 600	A
D/A Auflösung				12		bit
Laser-Vorwärtsspannung			8			V
Puls-Pausen-Verhältnis Schnellanstiegversion (Angaben beispielhaft. Der maximale Strom kann bei der Bestellung beliebig von 1A bis 600A spezifiziert werden.)	LIV100-F002 LIV100-F040 LIV100-F080 LIV100-F120				25 1,5 0,7 0,5	%
Puls-Pausen-Verhältnis Langpulsversion (Angaben beispielhaft. Der maximale Strom kann bei der Bestellung beliebig von 1A bis 600A spezifiziert werden.)	LIV100-L002 LIV100-L040 LIV100-L080 LIV100-L120 LIV100-L200				35 2,9 1,5 1,0 0,6	%
Puls-Pausen-Verhältnis Langpulsversion (Angaben beispielhaft. Der maximale Strom kann bei der Bestellung beliebig von 1A bis 600A spezifiziert werden.)	LIV100-XL002 LIV100-XL040 LIV100-XL080 LIV100-XL120 LIV100-XL200 LIV100-XL400 LIV100-XL600				35 2,9 1,5 1,0 0,6 0,3 0,2	%
Signalverarbeitung
Speichertiefe				512		kB
Anzahl Messkanäle		1	1		250
PC Interface
Typ			USB; 100kB/s
Dimensionen
	DAQ Einheit		114 x 150 x 125 (B x L x H)				mm

¹ F-Versionene bei 60A. Der maximale Stsrom der F-Version beträgt 120A.

² Mit 2µs Pulsbreite. Aufnahme von 200 Pulswerten und 0,2% duty cycle.

³ Per ANSI/IEEE Standard 181-1977: 10% – 90%.

⁴ Die optimale Abtastrate wird automatisch gesetzt.

⁵ Mit optimierter Flachbandleitung

Optionen

Anstiegszeit: 70ns (F-Version); 500ns (L-Version); 1µs (XL-Version)
Maximalströme: 250mA bis zu 600A
Wellenlängenbereich: 250-1000nm; 400-1600nm; 800-2490nm
Simultane Spektrumsmessung

Gern werden wir z.B. die Wellenlänge oder den Strom auf Ihre Anwendung anpassen. Bitte kontaktieren Sie uns mit Ihren Anforderungen.

Zubehör

Ulbrichtkugeln
Flachbandleitung
Halterungen und Vakuum-Chucks
TECs und TEC-Treiber

Einzelemitter-Kontaktierung auf Laserbarren

Tutorial zur Kontaktierung nackter Chips und Barren zur LIV-Messung (englisch).

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Mehr Informationen

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Artifex Software-Development-Kit

Das SDK ist ein fester, kostenfreier Bestandteil beim Kauf eines Gerätes.

Es beinhaltet den Quellcode des Anwendungsprogramms (in VB.net) und ein LabView VI mit den grundsätzlichen Funktionen des Instruments.

Ebenfalls enthalten ist die Beschreibung der Kommunikation mit den Geräten und eine Liste der verwendeten Kommandos.

Für einige Geräte (aktuell LDD100, LIV120 in Vorbereitung) gibt es eine dll Datei (Bibliotheksdatei) mit Dokumentation und Beispielanwendungen in VB.net und LabView.