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System zur Charakterisierung von Laserdioden LIV100

  • Komplettlösung
  • Ströme bis 600 Ampere
  • Sehr kompakt

Leistungsstarkes Kurzpuls-Prüfsystem für die elektrooptische Charakterisierung von Laserdioden und LEDs auf Chip-, Barren- oder Submount-Ebene. 

Die schnelle Anstiegszeit nahezu ohne Überschwinger ermöglicht die Prüfung dieser thermisch „nakten“ Bauteile ohne übermäßige thermische Aufladung.

Die Standardgeräte sind für CW-Testing nicht geeignet.

  • Ausschließlich gepulste Prüfung
  • Maximalströme: 250mA bis zu 600A
  • Maximale Anzahl an Stromschritten: 4000
  • Schnittstelle: USB
  • Anstiegszeit: 50ns (F-Version); 500ns (L-Version);
    1µs (XL-Version)
  • Durchsatz: typischerweise 1s pro Einheit
Der LIV100 ist ein Kurzpuls-Testsystem zur Charakterisierung von Laserdioden und LEDs auf Chip-, Barren- oder Submount-Ebene. Die schnelle Anstiegszeit nahezu ohne Überschwinger ermöglicht die Prüfung dieser thermisch „nakten“ Bauteile ohne übermäßige thermische Aufladung. Die Standardgeräte sind für CW-Testing nicht geeignet. Wir haben drei Versionen des LIV100 im angebot, die sich in der Geschwindigkeit und in der Pulsdauer unterscheiden. Jede Version ist für einen beliebigen Maximalstrom erhältlich (angegeben durch „xxx“ in der Liste s.u.).
  • LIV100-Fxxx: Schnelle Version mit 50ns Anstiegszeit und Pulsdauern von 150ns. Die höchste Pulsdauer bei Maximalstrom ist typischerweise begrenzt auf 10µs.
  • LIV100-Lxxx: Version mit langen Pulsen mit einer Anstiegszeit von 500ns. Die kürzeste Pulsdauer ist 2µs. Die höchste Pulsdauer bei Maximalstrom ist typischerweise begrenzt auf 100µs.
  • LIV100-XLxxx: Version mit extra langen Pulsen mit einer Anstiegszeit von 1µs. Die kürzeste Pulsdauer ist 5µs. Die höchste Pulsdauer bei Maximalstrom sind 2000µs.

FUNKTIONSWEISE

Alle drei Systeme werden für automatisierte Messungen über den USB-Port gesteuert. Vom Steuercomputer wird ein Parametersatz hochgeladen und nach einem Startbefehl führt das LIV den gesamten Messvorgang vollständig autark durch. Die schnelle Datenerfassung sorgt für einen hohen Durchsatz. Der LIV100 arbeitet ausschließlich im gepulsten Betrieb: System zur Charakterisierung von Laserdioden LIV100 7

Gepulster LIV-Modus

Der Burst-Modus wird genutzt, um den Treiber bei konstantem Strom mit einer einzigen Puls- (oder Schritt-)weite und Pausenzeit während der gesamten Messung zu betreiben. Die Laserleistung wird in diesem Modus für jeden Puls bestimmt. Schematisch erscheint dies folgendermaßen: System zur Charakterisierung von Laserdioden LIV100 8

Gepulster burst Modus

Der Burst-Modus wird verwendet, um den thermischen Kontakt einer Vorrichtung zu testen oder um Licht für eine bestimmte Zeitdauer (Smile, Nahfeld- / Fernfeldmessungen oder Bestimmung des Spektrums) zu generieren. Artifex Engineering unterstützt dieses Produkt mit einer kundenspezifischen Konfektionierung von Flachbandleitern oder Kontaktkarten zur Stromübertragung.

ANWENDUNGSGEBIETE

Mögliche Anwendungen liegen in der Charakterisierung von Laserdioden vor und nach dem Submounting oder Packaging, der Wareneingangskontrolle sowie im OEM-Bereich. Unter Verwendung der mitgelieferten Software genügt ein einziger Mausklick, um für die getestete Einheit ein vollständiges Datenblatt in pdf-Format zu erzeugen. Die Kurzpulstauglichkeit des LIV100 ermöglicht unverfälschte Messungen der zu testenden Einheit mit vernachlässigbarer thermischer Aufladung. Dieser Effekt kann ausgenutzt werden, um die thermische Beständigkeit des Kontaktes zu einem Submount oder Package zu bestimmen (siehe „Tutorial-“ und „Downloads-“ Tabs).

ParameterGeräteversionBedingungenAuflösungMinTypMaxEinheit
Eingänge:
  • 2x Transimpedanzverstärker (1x reserviert für Stromeingang, 1x frei für zweiten Stromkanal)
  • 2x A/D-Wandler reserviert für Strom- und Spannungseingänge
AbtastrateEinstellbar: 20/n MS/s mit n=1..20n.a.120MS/s
A/D Auflösung13bit
Photodiodenverstärkungoptimale Verstärkung
automatisch bestimmt
1
10
V/mA
Transimpedanzverstärker Anstiegszeit1 Eingangskapazität <20pF. Gain = 1kΩ50ns
Ausgang
Pulsdauer2F20MS/s Abtastrate
1MS/s Abtastrate
0,050
1
0,150
1
100
2000
µs
Pulsdauer2L20MS/s Abtastrate
1MS/s Abtastrate
0,050
1
2
2
100
2000
µs
Pulsdauer2XL20MS/s Abtastrate
1MS/s Abtastrate
0,050
1
5
5
100
2000
µs
AnstiegszeitF
L
XL
701
420
700
100
500
1000
ns
Strom-Überschwinger bei maximalem Strom5 05%
PulsabstandEinstellbar: 50 ·n µs mit n= 2..10 00050100500 000µs
Wiederholrate100kHz
Strombereich (Angaben beispielhaft. Der maximale Strom kann bei der Bestellung beliebig von 1A bis 600A spezifiziert werden.)LIV100-F002, -L002 oder -XL002
LIV100-F040, -L040 oder -XL040
LIV100-F080, -L080 oder -XL080
LIV100-F120, -L120 oder -XL120
LIV100-L200 oder -XL200
LIV120-XL400
LIV120-XL600
0,0005
0,01
0,02
0,03
0,05
0,10
0,15
0,01
0,2
0,4
0,6
1,0
2,0
2,0
2
40
80
120
200
400
600
A
D/A Auflösung12bit
Laser-Vorwärtsspannung8V
Puls-Pausen-Verhältnis Schnellanstiegversion
(Angaben beispielhaft. Der maximale Strom kann bei der Bestellung beliebig von 1A bis 600A spezifiziert werden.)
LIV100-F002
LIV100-F040
LIV100-F080
LIV100-F120
25
1,5
0,7
0,5
%
Puls-Pausen-Verhältnis Langpulsversion
(Angaben beispielhaft. Der maximale Strom kann bei der Bestellung beliebig von 1A bis 600A spezifiziert werden.)
LIV100-L002
LIV100-L040
LIV100-L080
LIV100-L120
LIV100-L200
35
2,9
1,5
1,0
0,6
%
Puls-Pausen-Verhältnis Langpulsversion
(Angaben beispielhaft. Der maximale Strom kann bei der Bestellung beliebig von 1A bis 600A spezifiziert werden.)
LIV100-XL002
LIV100-XL040
LIV100-XL080
LIV100-XL120
LIV100-XL200
LIV100-XL400
LIV100-XL600
35
2,9
1,5
1,0
0,6
0,3
0,2
%
Signalverarbeitung
Speichertiefe512kB
Anzahl Messkanäle11250
PC Interface
TypUSB; 100kB/s
Dimensionen
DAQ Einheit114 x 150 x 125 (B x L x H)mm

1 F-Versionene bei 60A. Der maximale Stsrom der F-Version beträgt 120A.

2 Mit 2µs Pulsbreite. Aufnahme von 200 Pulswerten und 0,2% duty cycle.

3 Per ANSI/IEEE Standard 181-1977: 10% – 90%.

4 Die optimale Abtastrate wird automatisch gesetzt.

5 Mit optimierter Flachbandleitung

  • Anstiegszeit: 50ns (F-Version); 500ns (L-Version); 1µs (XL-Version)
  • Maximalströme: 250mA bis zu 600A
  • Wellenlängenbereich: 250-1100nm; 400-1650nm
  • Simultane Spektrumsmessung

Gern werden wir z.B. die Wellenlänge oder den Strom auf Ihre Anwendung anpassen. Bitte kontaktieren Sie uns mit Ihren Anforderungen.

  • Ulbrichtkugeln
  • Flachbandleitung
  • Halterungen und Vakuum-Chucks
  • TECs und TEC-Treiber

Produkt-Demonstration: Artifex Laserdioden-Charakterisierungssystem

Entdecken Sie das Potenzial unseres LIV100 in Kombinationen mit unseren kalibrierten Ulbrichtkugeln. Wir zeigen beispielhafte Messungen zur Charakterisierung von Laserdioden und zeigen Ihnen Messergebnisse im GUI.

liv100_overlay
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System zur Charakterisierung von Laserdioden LIV100 9

Artifex Software-Development-Kit

Das SDK ist ein fester, kostenfreier Bestandteil beim Kauf eines Gerätes.

Es beinhaltet den Quellcode des Anwendungsprogramms (in VB.net) und ein LabView VI mit den grundsätzlichen Funktionen des Instruments.
Ebenfalls enthalten ist die Beschreibung der Kommunikation mit den Geräten und eine Liste der verwendeten Kommandos.

Für einige Geräte (aktuell LDD100, LIV120 in Vorbereitung) gibt es eine dll Datei (Bibliotheksdatei) mit Dokumentation und Beispielanwendungen in VB.net und LabView.

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