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System zur Charakterisierung von Laserdioden LIV100

Leistungsstarkes Kurzpuls-Prüfsystem für die elektrooptische Charakterisierung von Laserdioden und LEDs auf Chip-, Barren- oder Submount-Ebene. 

Die schnelle Anstiegszeit nahezu ohne Überschwinger ermöglicht die Prüfung dieser thermisch „nakten“ Bauteile ohne übermäßige thermische Aufladung.

CW-Prüfung ist nur für Modelle mit bis zu 20A Maximalstrom erhältlich.

Benötigen Sie weitere Informationen? Hier finden Sie nützliche Links!

Einzelemitter-Kontaktierung auf Laserbarren

Tutorial zur Kontaktierung nackter Chips und Barren zur LIV-Messung (englisch).

Artifex Software-Development-Kit

Das SDK ist ein fester, kostenfreier Bestandteil beim Kauf eines Gerätes.

Es beinhaltet den Quellcode des Anwendungsprogramms (in VB.net) und ein LabView VI mit den grundsätzlichen Funktionen des Instruments.

Ebenfalls enthalten ist die Beschreibung der Kommunikation mit den Geräten und eine Liste der verwendeten Kommandos.

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