- Rund, rechtwinklig, elliptisch: Nahezu jede beliebige Form möglich einschließlich Aussparungen und Bohrlöcher
- Mit Anti-Reflexionsbeschichtung für 45° oder jeden anderen beliebigen Einfallswinkel
- Auch verwendbar für Hochleistungslaser-Anwendungen, bei denen gekittete Würfel ungeeignet sind
Die Strahlteilerplatte ist eine dünne optische Glasplatte, um einen Lichtstrahl (üblicherweise) unter 45° Einfallswinkel in zwei Teilstrahlen aufzuteilen.
| wdt_ID | wdt_created_by | wdt_erstellt_bei | wdt_zuletzt_bearbeitet_von | wdt_zuletzt_bearbeitet_um | Spezifikationen | lieferbare Qualität |
|---|---|---|---|---|---|---|
| 6 | Benjamin | 28/04/2026 10:28 AM | Benjamin | 28/04/2026 10:28 AM | Abmessungsbereich | 2mm-400mm |
| 7 | Benjamin | 28/04/2026 10:28 AM | Benjamin | 28/04/2026 10:28 AM | Bestmögliche Passe | λ/10 (DIN: 3/0.2) |
| 8 | Benjamin | 28/04/2026 10:28 AM | Benjamin | 28/04/2026 10:28 AM | Bestmögliche Oberflächenqualität | 20-10 S/D (DIN: 5/1×0.06) |
| 9 | Benjamin | 28/04/2026 10:28 AM | Benjamin | 28/04/2026 10:28 AM | Wellenlängenbereich | einzelne Wellenlänge (alle Varianten) oder Breitband (nur unpolarisiert) |
| 10 | Benjamin | 28/04/2026 10:28 AM | Benjamin | 28/04/2026 10:28 AM | Bestmögliche Toleranz gegenüber Strahlabweichung: | 2″ (arcsec) |
Überlegene Beständigkeit: Kundenspezifische Plattenstrahlteiler für 45° Einfallswinkel und Hochleistungslaser
Die Strahlteilerplatte ist eine dünne optische Glasplatte. Die erste Oberfläche ist mit einer nur-dielektrischen Dünnschicht mit partiellen Reflexionseigenschaften beschichtet. Die zweite Oberfläche ist antireflexionsbeschichtet für 45° oder jeden anderen beliebigen Einfallswinkel. Alternativ kann die zweite Oberfläche auch im Verhältnis zur ersten Oberfläche abgewinkelt sein (Keil), um Interferenzeffekte zu vermeiden. In diesem Fall ist die Richtung des transmittierten Strahls nicht parallel zur Eintrittsrichtung und die Form des Strahls ist leicht verzerrt.
Dieser Strahlteiler kann auch für geringe Absorption und hohe Zerstörschwelle ausgelegt werden, verwendbar für Hochleistungslaser-Anwendungen, bei denen gekittete Würfel ungeeignet sind.
Wir bieten drei Arten von Platten, die sich unterscheiden in der Polarisation des Eintritts- und des Austrittsstrahls: Unpolarisierte Strahlteilerplatten (Schmalband und Breitband) generieren teilweise polarisierte Austrittsstrahlen für zufällig polarisiertes Eingangslicht. Polarisierende Strahlteilerplatten (nur Schmalband) generieren sowohl s-polarisierte und p-polarisierte Strahlen aus zufällig polarisiertem Eingangslicht. Bei nichtpolarisierenden Strahlteilerplatten (nur Schmalband) bleibt die Polarisation des Austrittsstrahls gleich, wenn der Eingangsstrahl 45° linear polarisiert oder zirkular polarisiert ist. Die funktionalen Eigenschaften dieser Ausführungen entsprechen denen der jeweiligen Strahlteilerwürfel.
Strahlteilerplatten lassen sich in nahezu jeder beliebigen Form fertigen: rund, rechtwinklig, elliptisch oder in jeder anderen Form einschließlich Aussparungen und Bohrlöcher. Löcher können auch winklig zur Oberflächennormalen gebohrt werden.
Warum Plattenstrahlteiler von Artifex?
Überall dort, wo Beständigkeit gegenüber Hochenergielasern, präzise Polarisationskontrolle und Designflexibilität entscheidend sind, bieten Plattenstrahlteiler eine äußerst widerstandsfähige Lösung mit hoher Zerstörschwelle. Erhältlich in unpolarisierten, polarisierenden und nichtpolarisierenden Ausführungen, mit kundenspezifischen Formen, Bohrungsgeometrien und Beschichtungsdesigns, passend zu den exakten optischen und mechanischen Anforderungen Ihres Systems.
Interferometrie
Aufteilung einer kohärenten Quelle in Referenz- und Messarm mit klar definierten Amplitudenverhältnissen für präzise Phasen- und Wegmessungen in Michelson-, Mach-Zehnder- und verwandten Interferometerkonfigurationen.
Strahlauskopplung und Leistungsüberwachung in Lasersystemen
Auskopplung eines kleinen, definierten Anteils eines Laserstrahls auf einen Fotodetektor zur Echtzeit-Leistungsüberwachung oder Regelung, während der Großteil des Strahls ungestört entlang des primären Strahlengangs weiterläuft.
Mikroskopie und Fluoreszenzbildgebung
Ermöglichung simultaner Beleuchtungs- und Detektionsstrahlengänge in Auflichtfluoreszenz- und Konfokalmikroskopiesystemen: Das Anregungslicht wird auf die Probe gelenkt, während die emittierte Fluoreszenz zum Detektor transmittiert wird.
Optische Kommunikation und Signalverteilung
Aufteilung optischer Signale auf mehrere Detektions- oder Übertragungskanäle in Freistrahl-Kommunikationssystemen zur Realisierung redundanter Signalwege oder paralleler Signalverarbeitung.
Holografie und Erzeugung von Interferenzmustern
Kombination oder Aufteilung kohärenter Strahlen mit kontrollierten Amplitudenverhältnissen zur Erzeugung stabiler Interferenzmuster für holografische Aufzeichnungen und diffraktive optische Anwendungen.
Spektroskopie und analytische Messtechnik
Aufteilung des einfallenden Lichts zwischen einem Referenzdetektor und einem Probenmessstrahlengang für präzise relative Intensitätsmessungen in Absorptions-, Reflexions- und Raman-Spektroskopieaufbauten.
Optische Systeme für Kameras und Sucher
Auskopplung eines Teils des einfallenden Lichts auf Hilfssensoren, etwa Autofokus- oder Belichtungsmesssensoren, während der primäre Bildstrahlengang für den Hauptbildsensor erhalten bleibt.
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