THE Turnkey Solution!
- Komplettlösung
- Außergewöhnliche Leistung
- Sehr kompakt
Die LIV-Laser-Charakterisierungsserie ist eine Reihe von Messsystemen zur elektro-optischen Charakterisierung von Laserdioden und LEDs – ob gehäust oder als Rohchip.
Diese Source Measurement Units (SMU) bieten hohen Durchsatz.
CW-Tests sind möglich.
- Gepulste Prüfung, QCW- und CW-Prüfung
- Maximalströme: 250 mA bis 1200 A
- Maximale Anzahl an Stromschritten: 4000
- Schnittstelle: USB
- Anstiegszeit LIV100: 70 ns (F-Version); 500 ns (L-Version); 1 µs (XL-Version)
- Anstiegszeit LIV120: 5 µs – 600 µs (abhängig vom Maximalstrom)
- Durchsatz: typischerweise 1s pro Einheit
EIGENSCHAFTEN
Die schlüsselfertigen Laserdioden-Testsysteme LIV100 und LIV120 verwenden digital programmierbare analoge Endstufen für eine flexible und präzise Stromregelung bei LIV-Messungen. Es steht eine breite Palette an Stromendstufen zur Verfügung, mit Maximalströmen von 250 mA für Low-Power- und Telekom-Laser bis hin zu 1200 A für Hochleistungs-Laserbarren. Kundenspezifische Source Measurement Units mit noch höheren Strömen sind ebenfalls erhältlich!
ANWENDUNGSGEBIETE
Zu den Anwendungen zählen die Charakterisierung von Laserdioden und LEDs vor und nach der Montage bzw. Gehäusung, die Eingangskontrolle sowie der Einsatz bei OEMs. Die schnelle Datenerfassung sorgt für hohen Durchsatz. Artifex Engineering unterstützt diesen Hochstrom-Laserdiodentester mit einem individuellen Konfigurationsservice für Streifenleiter oder Kontaktkarten.
Laser Diode Characterization System LIV100 – System Overview – English
Laser Diode Characterization System LIV100 – System Overview – Chinese
Laser Diode Characterization System LIV120 – System Overview – English
Laser Diode Characterization System LIV120 – System Overview – Chinese
How to use LIV Contact Card – English
How to use LIV Contact Card – Chinese
- Anstiegszeit LIV100: 70 ns (F-Version); 500 ns (L-Version); 1 µs (XL-Version)
- Maximalströme: 250 mA bis 1200 A
- Wellenlängenbereich: 250–1000 nm; 400–1600 nm; 800–2000 nm; 800–2490 nm; 1000–2200 nm; 1300–2500 nm
- Simultane Spektrummessung
Gerne passen wir beispielsweise die Wellenlänge oder den Strom an Ihre Anwendung an. Teilen Sie uns Ihre Anforderungen mit.
Anschlussleitungen
Streifenleiter-Anschlüsse
Application Note: Considerations for Laser Contacting
Application Note: Choice of Compliance Voltage in Current Sources
Application Note: Effect of Pulse Duration on Bar Temperature
Application Note: Contacting single emitters on a laser bar on a vacuum chuck
Application Note: Measuring Threshold Accurately with the LIV100
Allgemeine Anwendung
Wofür steht LIV?
LIV steht für Licht-Stromstärke-Spannung, bezogen auf die drei während der Charakterisierung von Laserdioden gemessenen Parameter.
Welche Messungen kann das LIV100/LIV120 durchführen?
Typische Messungen beinhalten:
- L-I-Kurven (optische Leistung vs. Strom)
- V-I-Kurven (Vorwärtsspannung vs. Strom)
- Schwellstrom
- Steigungseffizienz
Welche Arten von Bauteilen können getestet werden?
- Laserdioden
- LEDs
- VCSELs
- Photonische Bauteile, die eine Strom- und optische Charakterisierung erfordern
Was ist der Unterschied zwischen LIV100 und LIV120?
Das LIV100 ist ein Kurzpulssgerät, das für unverpackte Geräte wie Chips oder Bars verwendet wird. Das LIV120 ist ein QCW/CW-Gerät, das im Allgemeinen für montierte oder verpackte Geräte wie TO- und CS-Fassungen verwendet wird.
Ich benötige einen spezifischen Strombereich, den ich weder auf Ihrer Website noch in Ihrer Broschüre finden kann. Ist es möglich, kundenspezifische Strom- oder Spannungsbereiche anzufordern?
Es ist in der Regel unkompliziert, diese Bereiche anzupassen. Geben Sie einfach Ihre Anforderungen an, und ein entsprechendes Gerät wird für Ihr Projekt ausgewählt.
Fragen zur Messung
Wie wird die optische Leistung bei LIV-Tests gemessen?
Mithilfe eines integrierten Detektors, beispielsweise einer Photodiode oder einer Ulbrichtkugel, die an das System angeschlossen ist.
Was ist der Schwellstrom?
Der Schwellstrom ist der Stromwert, ab dem die Laserdiode beginnt, kohärentes Laserlicht zu emittieren.
Was ist die Steigungseffizienz?
Die Steigungseffizienz beschreibt, wie effizient der Strom oberhalb des Schwellenwerts in optische Leistung umgewandelt wird.
Können gepulste Messungen durchgeführt werden?
Ja. Der gepulste Betrieb reduziert die Aufheizeffekte während der Messung.
Wie verbinde ich eine Laserdioden mit dem LIV100?
Das LIV100 nutzt Stripline-Technologie zur Minimierung der Induktivität. Die Laserdiode wird über die Ausgangsklemmen mit richtiger Polarität angeschlossen. Kontaktkarten sind auf Anfrage für kundenspezifische Anschlusskonfigurationen erhältlich.
Wie schließe ich eine Laserdiode an den LIV120 an?
Die Laserdiode wird über die Ausgangsklemmen mit richtiger Polarität angeschlossen. Wenn es sich um ein Gerät mit geringem Stromverbrauch handelt, gibt es einen DB9-Ausgang.
Welche Wartung ist erforderlich?
Typische Wartungsmaßnahmen umfassen:
- Periodische Kalibrierung
- Steckverbindersicht
- Reinigung optischer Oberflächen (Staubentfernung nur mit sauberer, trockener Luft)
Integration
Kann das LIV-System automatisiert werden?
Das System unterstützt automatisierte Messungen über Softwaresteuerung.
Kann die Temperaturregelung integriert werden?
Thermokontroller und temperaturgeregelte Tische können hinzugefügt werden.
Ist es für Produktionstests geeignet?
Ja, insbesondere für automatisierte LIV-Sweeps. Das System kann vollständige Lasercharakterisierungsmessungen in extrem kurzer Zeit für hohen Durchsatz durchführen.
Laserdioden-Charakterisierungssystem | LIV100
- Komplettlösung
- Ströme bis 600 A
- Sehr kompakt
Das LIV100 ist ein leistungsstarkes Kurzpuls-Laserdioden-Charakterisierungssystem zum Testen von Laserdioden und LEDs auf Chip-, Barren- oder Submount-Ebene. Seine extrem schnelle Anstiegszeit mit praktisch keinem Überschwingen ermöglicht präzise Messungen an thermisch „ungeschützten“ Bauteilen bei gleichzeitig minimaler thermischer Belastung des Prüflings.
Das System unterstützt CW-Tests bis zu einem Maximalstrom von 20 A und bietet gepulsten Betrieb mit Pulsdauern von 150 ns bis 2000 µs. Die Version mit schneller Anstiegszeit erreicht Anstiegs- und Abfallzeiten von nur 50 ns bei Strömen bis zu 60 A und gewährleistet damit eine präzise Steuerung des Treiberstroms.
Diese einzigartige Leistungsfähigkeit ermöglicht zuverlässige Tests von Hochleistungslaserdioden (HPLD), selbst bei empfindlichen Bauteilen auf Chip- oder Barrenebene, ohne nennenswerte thermische Belastung einzubringen. Dadurch ermöglicht das LIV100 eine hochpräzise LIV-Charakterisierung bei gleichzeitigem Schutz empfindlicher Halbleiterlaserstrukturen während der Messung.
Laserdioden-Charakterisierungssystem | LIV100
- Komplettlösung
- Ströme bis 600 A
- Sehr kompakt
Das LIV100 ist ein leistungsstarkes Kurzpuls-Laserdioden-Charakterisierungssystem zum Testen von Laserdioden und LEDs auf Chip-, Barren- oder Submount-Ebene. Seine extrem schnelle Anstiegszeit mit praktisch keinem Überschwingen ermöglicht präzise Messungen an thermisch „ungeschützten“ Bauteilen bei gleichzeitig minimaler thermischer Belastung des Prüflings.
Das System unterstützt CW-Tests bis zu einem Maximalstrom von 20 A und bietet gepulsten Betrieb mit Pulsdauern von 150 ns bis 2000 µs. Die Version mit schneller Anstiegszeit erreicht Anstiegs- und Abfallzeiten von nur 50 ns bei Strömen bis zu 60 A und gewährleistet damit eine präzise Steuerung des Treiberstroms.
Diese einzigartige Leistungsfähigkeit ermöglicht zuverlässige Tests von Hochleistungslaserdioden (HPLD), selbst bei empfindlichen Bauteilen auf Chip- oder Barrenebene, ohne nennenswerte thermische Belastung einzubringen. Dadurch ermöglicht das LIV100 eine hochpräzise LIV-Charakterisierung bei gleichzeitigem Schutz empfindlicher Halbleiterlaserstrukturen während der Messung.
Laserdioden-Charakterisierungssystem | LIV120
- Schlüsselfertige Lösungen
- Gepulst, QCW und CW
- LIV und Burn-in-Test
Das LIV120 ist ein vielseitiger CW/QCW-Laserdiodentester für die zuverlässige Charakterisierung und Prüfung von Laserdioden und LEDs. Es vereint leistungsstarke Messfunktionen mit einem kompakten Design und bietet eine vollständige Einkanal-Burn-in-Funktionalität, wodurch es sich sowohl für den Laboreinsatz als auch für die OEM-Integration eignet.
Das Gerät wird über eine USB-Schnittstelle gesteuert, was vollautomatisierte Messungen von einem Host-Computer aus ermöglicht. Ein vordefinierter Parametersatz wird auf das Gerät geladen; nach dem Start der Messung führt das LIV120 die vollständige Testsequenz autonom durch. Dies gewährleistet konsistente und reproduzierbare Messungen bei gleichzeitig reduziertem Bedienaufwand.
Als leistungsstarkes, aber kosteneffizientes gepulstes, QCW- und CW-Laserdioden-Charakterisierungssystem konzipiert, unterstützt das LIV120 ein breites Spektrum an Testanwendungen, darunter Diodencharakterisierung, Wareneingangsprüfung und OEM-Integration.
Das Gerät ist mit verschiedenen Source-Measurement-Unit (SMU)-Endstufen erhältlich, die Strombereiche von 250 mA bis 40 A in einem kompakten Gehäuse sowie bis zu 1200 A in 19-Zoll-Racksystemen für Hochleistungsanwendungen abdecken. Für optische Leistungsmessungen ist das LIV120 mit unseren OPM150-Laserleistungsdetektorköpfen kompatibel, was eine präzise und zuverlässige Leistungserfassung gewährleistet.
Dank seiner optimierten Architektur dauert ein vollständiger Messzyklus – einschließlich der Datenübertragung an den Host-Computer – in der Regel weniger als eine Sekunde, was schnelle und effiziente Bauteiltests sowohl in Forschungs- als auch in Produktionsumgebungen ermöglicht.
Laserdioden-Charakterisierungssystem | LIV120
- Schlüsselfertige Lösungen
- Gepulst, QCW und CW
- LIV und Burn-in-Test
Das LIV120 ist ein vielseitiger CW/QCW-Laserdiodentester für die zuverlässige Charakterisierung und Prüfung von Laserdioden und LEDs. Es vereint leistungsstarke Messfunktionen mit einem kompakten Design und bietet eine vollständige Einkanal-Burn-in-Funktionalität, wodurch es sich sowohl für den Laboreinsatz als auch für die OEM-Integration eignet.
Das Gerät wird über eine USB-Schnittstelle gesteuert, was vollautomatisierte Messungen von einem Host-Computer aus ermöglicht. Ein vordefinierter Parametersatz wird auf das Gerät geladen; nach dem Start der Messung führt das LIV120 die vollständige Testsequenz autonom durch. Dies gewährleistet konsistente und reproduzierbare Messungen bei gleichzeitig reduziertem Bedienaufwand.
Als leistungsstarkes, aber kosteneffizientes gepulstes, QCW- und CW-Laserdioden-Charakterisierungssystem konzipiert, unterstützt das LIV120 ein breites Spektrum an Testanwendungen, darunter Diodencharakterisierung, Wareneingangsprüfung und OEM-Integration.
Das Gerät ist mit verschiedenen Source-Measurement-Unit (SMU)-Endstufen erhältlich, die Strombereiche von 250 mA bis 40 A in einem kompakten Gehäuse sowie bis zu 1200 A in 19-Zoll-Racksystemen für Hochleistungsanwendungen abdecken. Für optische Leistungsmessungen ist das LIV120 mit unseren OPM150-Laserleistungsdetektorköpfen kompatibel, was eine präzise und zuverlässige Leistungserfassung gewährleistet.
Dank seiner optimierten Architektur dauert ein vollständiger Messzyklus – einschließlich der Datenübertragung an den Host-Computer – in der Regel weniger als eine Sekunde, was schnelle und effiziente Bauteiltests sowohl in Forschungs- als auch in Produktionsumgebungen ermöglicht.
Anwendungshinweise
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Artifex Software Development Kit
Das SDK ist beim Kauf eines Geräts fest im Lieferumfang enthalten und kostenlos.
Es umfasst den Quellcode des Anwendungsprogramms (in VB.net) sowie ein LabView-VI mit den Grundfunktionen des Geräts. Eine Beschreibung der Kommunikation mit den Geräten sowie eine Liste der verwendeten Befehle sind ebenfalls enthalten.
